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　　3.4加强与发 的沟通，提升完善的针对性在LIMS系统的调研阶段，专人参与到具体的环境监测业务中。在系统的发阶段， 内熟悉监测业务的人员要参与项目发，在发过程中发现具体问题立即指出，确保LIMS系统二次发工作的顺利完成。
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用于测量二维平面尺寸，广泛应用在各种不同的精密产业中。其主要用于在卡尺、角度尺很难测量到或根本测量不到的但在装配中起着重要的零部件尺寸、角度等，如硅胶、电路板的爬电距离、电器间隙、控制面板的灯孔、塑料件的某些尺寸等等，还可用于对某些零部件的图片进行照片用于分析 原因。由于影像测量仪是利用表面光或轮廓光照明零件所得到的影像，对零件的测量时需要取点，故并非所有零件采用二次元测量仪测量都是 精密的，选取的方法、 有效的途径才能对零件的尺寸测量 准确。1、自动抓取测量功能(自动捕捉点、线、圆，圆弧等)将工件放置在软件主界面中时，只需选取相应的绘图命令，软件智能 地自动绘出工件实时影像中的线、圆等图元，这种绘图方法较肉眼取点更 更快速，而且避免了人为误差。
2、基于智能图像的高精度光学辅助对焦和测高功能：
具备自动和手动对焦功能，选定目标区域后自动或手动Z轴，可搜索到 清晰位置。软件自动捕捉、判别，将人为误差降至。
3、地图功能
人性化的地图功能可以帮助你在大工件上快速局部位置，缩短了操作需要的寻找时间。打地图可以虚拟测量或。
4、全自动及手动CNC测量
CNC编程测量分为全自动和手动模式，在全自动CNC模式下，进行大批量工件检测时，只需要对测量过程进行一次编程即可自动进行多次全自动重复测量。对于手动工作台采用手动CNC模式，可实现模拟CNC的自动测量功能，提高工作效率。
5、阵列测量
阵列测量可以对同一工件上阵列分布的部分进行自动测量，只需对阵分布的部分进行编程并对阵分布规则设置后即可自动进行测量。
6、图纸比对
打CAD设计图纸，与实际影像不吻合，使用图纸比对中的摆正功能可以将打的图纸与影像重合。使用摆正后的图形，可以进行测量或简单比对。
7、SPC统计
内置SPC（统计过程控制)功能，可以在测量后读取的测量数据，生成X-R、Xm-R等控制图，并计算值，值、平均值、标准差、偏移值、Ca、Cp、Cpk等统计系数。

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而单纯由于资金缺乏或人员不够而延长仪器校准周期将是十分危险的，可能由于使用不准确的测量仪器带来更大的风险甚至严重的后果。4确定仪器校准周期的依据仪器校准周期的确定需要各种 知识，考虑多种因素。若超过一个周期，可能引起 特性的恶化，那是由于机械磨损、灰尘、性能和实验频次等所致。
电磁学计量器具：标准电池、标准电压源、标准电流源、标准电功率源、标准电阻、电阻箱、标准电容、测量用可变电容器、电容箱等

挑战在于，无线接收机要能检测到非常小的信号。频谱分析仪必须设置成接近模拟受扰接收机的灵敏度，才能“看到”接收机“看到”的东西。，普通LTE接收机的灵敏度约为-120dBm。也就是说，接收机通道上任何大于-120dBm的射频污染都会影响接收机的操作。频谱分析仪有两种控制功能可以调节灵敏度：基准电平(RefLvl)和解析带宽(RBW)。挑战在于，在“空中”(OTA)进行测量时，基准电平必需保持得相当高(-30dBm)，这样在测量所有RF能量时，频谱分析仪才不会过载。
比较法：当每台测量仪器按规定的的仪器校准周期进行仪器校准，将仪器校准数据和前几次的仪器校准数据相比，如果连续几个周期的仪器校准结果均在规定的允许范围内，则可以延长它的仪器校准周期;如果发现超出允许的范围，则应缩短该仪器的仪器校准周期。